本文共 1094 字，大约阅读时间需要 3 分钟。

芯片测试

资源限制
时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB
问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

思路：
因为题目中说超过一半的芯片是好的，而且好芯片测的是正确的。所以假设所有的芯片都是好的，除了自己测自己之外（当 i==j 时）。剩下的好的个数超过全部芯片一半。所以只要根据 每一列的所有测试结果（因为题目上说，数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果。所以将每一列的数据相加，就是ans。当然 i!=j 时），判断其为好芯片的总数 ans>=n/2 的时候，这个芯片就是好芯片。

完整代码：

#include<iostream>using namespace std;int a[25][25];int main(){
       int n;    cin>>n;    for(int i=1;i<=n;i++)    {
           for(int j=1;j<=n;j++)        {
               cin>>a[i][j];        }    }    for(int i=1;i<=n;i++)    {
           int ans=0;        for(int j=1;j<=n;j++)        {
               if(i!=j)            {
                   ans+=a[j][i];            }        }        if(ans>=n/2)        {
               cout<<i<<" ";        }    }    return 0;}