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基于Arduino的DS18B20光敏传感器驱动实现

文章目录

• 一、硬件准备

  • 1.1 器件对比与接线方案

• 二、驱动实现

  • 2.1 开发环境配置

  • 2.2 核心代码解析

• 三、深度问题排查

• 总结

一、硬件准备

1.1 器件对比与接线方案

DS18B20作为一款专业的单总线数字温度传感器，以其优越的抗干扰能力和灵敏度著称。本文选用了ESP32-S3-DevKitC-1开发板作为主控单元，完成对DS18B20的测量与采集，并通过OLED屏显扩展方案实现数据可视化。

接线方案

VCC → 3.3V

二、驱动实现

2.1 开发环境配置

在Arduino IDE中，直接使用ESP32的标签文件（通常位于 subplot rowspan Skeleton wdt支持的板子_skin文件夹中），添加 Remix OS 的日志输出功能以便调试。对于DS18B20的原本_ADC功能，无需额外安装第三方库即可实现高精度传感器测量。

2.2 核心代码解析

核心代码基于Arduino平台开发，主要包含如下流程：

void setup() {    Serial.begin(9600);    pinMode(LDR, INPUT);}void loop() {    delay(1000);    ldr_read();}void ldr_read() {    // 采样过程    int adcValue = analogRead(13);    // 转换规则    float voltage = (13 - adcValue / 1024 * 3.3);    int luminance = map(voltage, 0, 13, 0, 100);    Serial.printf("光照强度：%d%%\n", luminance);}

关键函数说明

1. analogRead(13)：通过模拟输入端采集光照强度对应的电压值。2. map 函数：将采集值映射至0-100，方便用户直观感知光照强度。3. Serial.printf：向主机端输出感知结果。

三、深度问题排查

• ADC通道冲突：需检查其它_GPIO端口是否更改为输入模式，或更换DS18B20。
• Digital pin 13是否正确连接：确保接线符合技术规格。
• ADC采样不稳定：增加diy delay或优化调试代码以解决异常读数。
• 电源供应不足：检查VCC和GND线是否接触良好。

对于常见问题，可通过阶段性调试和测试框架逐步排查，确保系统稳定运行。

总结

本文通过ESP32-S3-DevKitC-1与DS18B20传感器的结合，实现了便捷的光照强度测量功能。通过对接线原理、驱动机制的深入分析，并提供简明排查方案，为用户提供了完整的开发与应用指导。这一方案因循实际需求，可直接应用于物联网传感器节点设计中。